Suchergebnisse

Rudek, B.; Son, S.-K.; Foucar, L.; Epp, S. W.; Erk, B.; Hartmann, R.; Adolph, M.; Andritschke, R.; Aquila, A.; Berrah, N. et al.; Bostedt, C.; Bozek, J.; Coppola, N.; Filsinger, F.; Gorke, H.; Gorkhover, T.; Graafsma, H.; Gumprecht, L.; Hartmann, A.; Hauser, G.; Herrmann, S.; Hirsemann, H.; Holl, P.; Hömke, A.; Journel, L.; Kaiser, C.; Krasniqi, F.; Kühnel, K.-U.; Matysek, M.; Messerschmidt, M.; Miesner, D.; Möller, T.; Moshammer, R.; Nagaya, K.; Nilsson, B.; Potdevin, G.; Pietschner, D.; Reich, C.; Rupp, D.; Schaller, G.; Schlichting, I.; Schmidt, C.; Schopper, F.; Schorb, S.; Schröter, C.-D.; Schulz, J.; Simon, M.; Soltau, H.; Strüder, L.; Ueda, K.; Weidenspointner, G.; Santra, R.; Ullrich, J.; Rudenko, A.: Ultra-efficient ionization of heavy atoms by intense X-ray free-electron laser pulses. Nature Photonics 6 (12), S. 858 - 865 (2012)

Rudek, B.; Son, S.-K.; Foucar, L.; Epp, S. W.; Erk, B.; Hartmann, R.; Adolph, M.; Andritschke, R.; Aquila, A.; Berrah, N. et al.; Bostedt, C.; Bozek, J.; Coppola, N.; Filsinger, F.; Gorke, H.; Gorkhover, T.; Graafsma, H.; Gumprecht, L.; Hartmann, A.; Hauser, G.; Herrmann, S.; Hirsemann, H.; Holl, P.; Hömke, A.; Journel, L.; Kaiser, C.; Kimmel, N.; Krasniqi, F.; Kühnel, K.-U.; Matysek, M.; Messerschmidt, M.; Miesner, D.; Möller, T.; Moshammer, R.; Nagaya, K.; Nilsson, B.; Potdevin, G.; Pietschner, D.; Reich, C.; Rupp, D.; Schaller, G.; Schlichting, I.; Schmidt, C.; Schopper, F.; Schorb, S.; Schröter, C.-D.; Schulz, J.; Simon, M.; Soltau, H.; Strüder, L.; Ueda, K.; Weidenspointner, G.; Santra, R.; Ullrich, J.; Rudenko, A.; Rolles, D.: Ultra-efficient ionization of heavy atoms by intense X-ray free-electron laser pulses. Nature Photonics 6 (12), S. 858 - 865 (2012)

Majewski, P.; Andricek, L.; Bähr, A.; De Vita, G.; Gunther, B.; Hermenau, K.; Hilchenbach, M.; Lauf, T.; Lechner, P.; Lutz, G. et al.; Miessner, D.; Porro, M.; Reiffers, J.; Richter, R.; Schaller, G.; Schnecke, M.; Schopper, F.; Soltau, H.; Stefanescu, A.; Strecker, R.; Struder, L.; Treis, J.: DEPFET macropixel detectors for MIXS: integration and qualification of the flight detectors. IEEE Transactions on Nuclear Science 59 (5 Part 3), S. 2479 - 2486 (2012)

Gorkhover, T.; Adolph, M.; Rupp, D.; Schorb, S.; Epp, S. W.; Erk, B.; Foucar, L.; Hartmann, R.; Kimmel, N.; Kühnel, K.-U. et al.; Rolles, D.; Rudek, B.; Rudenko, A.; Andritschke, R.; Aquila, A.; Bozek, J. D.; Coppola, N.; Erke, T.; Filsinger, F.; Gorke, H.; Graafsma, H.; Gumprecht, L.; Hauser, G.; Herrmann, S.; Hirsemann, H.; Hömke, A.; Holl, P.; Kaiser, C.; Krasniqi, F.; Meyer, J.-H.; Matysek, M.; Messerschmidt, M.; Miessner, D.; Nilsson, B.; Pietschner, D.; Potdevin, G.; Reich, C.; Schaller, G.; Schmidt, C.; Schopper, F.; Schröter, C. D.; Schulz, J.; Soltau, H.; Weidenspointner, G.; Schlichting, I.; Strüder, L.; Ullrich, J.; Möller, T.; Bostedt, C.: Nanoplasma dynamics of single large Xenon clusters irradiated with superintense X-ray pulses from the Linac Coherent Light Source free-electron laser. Physical Review Letters 108 (24), 245005, S. 1 - 5 (2012)

Ordavo, I.; Ihle, S.; Arkadiev, V.; Scharf, O.; Soltau, H.; Bjeoumikhov, A.; Bjeoumikhova, S.; Buzanich, G.; Gubzhokov, R.; Günther, A. et al.; Hartmann, R.; Holl, P.; Kimmel, N.; Kühbacher, M.; Lang, M.; Langhoff, N.; Liebel, A.; Radtke, M.; Reinholz, U.; Riesemeier, H.; Schaller, G.; Schopper, F.; Strüder, L.; Thamm, C.; Wedell, R.: A new pnCCD-based color X-ray camera for fast spatial and energy-resolved measurements. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A 654 (1), S. 250 - 257 (2011)

Chapman, H. N.; Fromme, P.; Barty, A.; White, T. A.; Kirian, R. A.; Aquila, A.; Hunter, M. S.; Schulz, J.; DePonte, D. P.; Weierstall, U. et al.; Doak, R. B.; Maia, F. R. N. C.; Martin, A. V.; Schlichting, I.; Lomb, L.; Coppola, N.; Shoeman, R. L.; Epp, S. W.; Hartmann, R.; Rolles, D.; Rudenko, A.; Foucar, L.; Kimmel, N.; Weidenspointner, G.; Holl, P.; Liang, M.; Barthelmess, M.; Caleman, C.; Boutet, S.; Bogan, M. J.; Krzywinski, J.; Bostedt, C.; Bajt, S.; Gumprecht, L.; Rudek, B.; Erk, B.; Schmidt, C.; Hömke, A.; Reich, C.; Pietschner, D.; Strüder, L.; Hauser, G.; Gorke, H.; Ullrich, J.; Herrmann, S.; Schaller, G.; Schopper, F.; Soltau, H.; Kühnel, K.-U.; Messerschmidt, M.; Bozek, J. D.; Hau-Riege, S. P.; Frank, M.; Hampton, C. Y.; Sierra, R. G.; Starodub, D.; Williams, G. J.; Hajdu, J.; Timneanu, N.; Seibert, M. M.; Andreasson, J.; Rocker, A.; Jönsson, O.; Svenda, M.; Stern, S.; Nass, K.; Andritschke, R.; Schröter, C.-D.; Krasniqi, F.; Bott, M.; Schmidt, K. E.; Wang, X.; Grotjohann, I.; Holton, J. M.; Barends, T. R. M.; Neutze, R.; Marchesini, S.; Fromme, R.; Schorb, S.; Rupp, D.; Adolph, M.; Gorkhover, T.; Andersson, I.; Hirsemann, H.; Potdevin, G.; Graafsma, H.; Nilsson, B.; Spence, J. C. H.: Femtosecond X-ray protein nanocrystallography. Nature 470 (7332), S. 73 - 77 (2011)

Seibert, M. M.; Ekeberg, T.; Maia, F. R. N. C.; Svenda, M.; Andreasson, J.; Jönsson, O.; Odić, D.; Iwan, B.; Rocker, A.; Westphal, D. et al.; Hantke, M.; DePonte, D. P.; Barty, A.; Schulz, J.; Gumprecht, L.; Coppola, N.; Aquila, A.; Liang, M.; White, T. A.; Martin, A.; Caleman, C.; Stern, S.; Abergel, C.; Seltzer, V.; Claverie, J.-M.; Bostedt, C.; Bozek, J. D.; Boutet, S.; Miahnahri, A. A.; Messerschmidt, M.; Krzywinski, J.; Williams, G.; Hodgson, K. O.; Bogan, M. J.; Hampton, C. Y.; Sierra, R. G.; Starodub, D.; Andersson, I.; Bajt, S.; Barthelmess, M.; Spence, J. C. H.; Fromme, P.; Weierstall, U.; Kirian, R.; Hunter, M.; Doak, R. B.; Marchesini, S.; Hau-Riege, S. P.; Frank, M.; Shoeman, R. L.; Lomb, L.; Epp, S. W.; Hartmann, R.; Rolles, D.; Rudenko, A.; Schmidt, C.; Foucar, L.; Kimmel, N.; Holl, P.; Rudek, B.; Erk, B.; Hömke, A.; Reich, C.; Pietschner, D.; Weidenspointner, G.; Strüder, L.; Hauser, G.; Gorke, H.; Ullrich, J.; Schlichting, I.; Herrmann, S.; Schaller, G.; Schopper, F.; Soltau, H.; Kühnel, K.-U.; Andritschke, R.; Schröter, C.-D.; Krasniqi, F.; Bott, M.; Schorb, S.; Rupp, D.; Adolph, M.; Gorkhover, T.; Hirsemann, H.; Potdevin, G.; Graafsma, H.; Nilsson, B.; Chapman, H. N.; Hajdu, J.: Single mimivirus particles intercepted and imaged with an X-ray laser. Nature 470 (7332), S. 78 - 81 (2011)

Wermes, N.; Andricek, L.; Fischer, P.; Haerter, M.; Heinzinger, K.; Herrmann, S.; Karagounis, M.; Kohrs, R.; Krueger, H.; Lutz, G. et al.; Lechner, P.; Peric, I.; Porro, M.; Richter, R. H.; Schaller, G.; Schnecke-Radau, M.; Schopper, F.; Soltau, H.; Strueder, L.; Trimpl, M.; Ulrici, J.; Treis, J.: New results on DEPFET pixel detectors for radiation imaging and high energy particle detection. IEEE Transactions on Nuclear Science 51 (3), S. 1121 - 1128 (2004)

Bähr, A.; Aschauer, S.; Hermenau, K.; Herrmann, S.; Lechner, P. H.; Lutz, G.; Majewski, P.; Miessner, D.; Porro, M.; Richter, R. H. et al.; Schaller, G.; Sandow, C.; Schnecke, M.; Schopper, F.; Stefanescu, A.; Strüder, L.; Treis, J.: New simulation and measurement results on gateable DEPFET devices. In: High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy V, 84530N, S. 1 - 13 (Hg. Holland, A. D.; Beletic, J. W.). High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy V, Amsterdam, Netherlands, 01. Juli 2012 - 04. Juli 2012. Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, Bellingham, Wash., USA (2012)

Majewski, P.; Aschauer, F.; Bähr, A.; De Vita, G.; Günther, B.; Hermenau, K.; Herrmann, S.; Hilchenbach, M.; Lauf, T.; Lechner, P. et al.; Lutz, G.; Miessner, D.; Porro, M.; Reiffers, J.; Schaller, G.; Schopper, F.; Soltau, H.; Stefanescu, A.; Strecker, R.; Strüder, L.; Treis, J.: Integration and calibration of DEPFET macropixel detectors for MIXS. In: High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy V, 84530Q, S. 1 - 9 (Hg. Holland, A. D.; Beletic, J. W.). High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy V, Amsterdam, Netherlands, 01. Juli 2012 - 04. Juli 2012. Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, Bellingham, Wash., USA (2012)

Niculae, A.; Bornschlegl, M.; Eckhardt, R.; Herrmann, J.; Jaritschin, O.; Lechner, P.; Liebel, A.; Soltau, H.; Schaller, G.; Schopper, F. et al.; Strüder, L.: New design and measurements with 60 mm2 Rococo2 SDD detectors. Microscopy and Microanalysis 2011, Nashville, Tennessee, USA, 07. August 2011 - 11. August 2011. Microscopy and Microanalysis 17 (Supplement 2), S. 1206 - 1207 (2011)

Soltau, H.; Hartmann, R.; Hartmann, A.; Holl, P.; Ihle, S.; Thamm, C.; Liebel, A.; Ordavo, I.; Schaller, G.; Schopper, F. et al.; Strüder, L.: Full field X-ray imaging - microanalysis between table top and free electron laser experiments. Microscopy and Microanalysis 2011, Nashville, Tennessee, USA, 07. August 2011 - 11. August 2011. Microscopy and Microanalysis 17 (Supplement 2), S. 910 - 911 (2011)

Treis, J.; Heinzinger, K.; Hermenau, K.; Herrmann, S.; Lauf, T.; Lechner, P.; Lutz, G.; Majewski, P.; Porro, M.; Richter, R. et al.; Schaller, G.; Schopper, F.; Soltau, H.; Strüder, L.; de Vita, G.: Progress on the development of DEPFET based SDD and MPD detectors. Microscopy and Microanalysis 2011, Nashville, Tennessee, USA, 07. August 2011 - 11. August 2011. Microscopy and Microanalysis 17 (Supplement 2), S. 1202 - 1203 (2011)

Lechner, P.; Andricek, L.; Aschauer, S.; Bähr, A.; De Vita, G.; Hermenau, K.; Hildebrand, T.; Lutz, G.; Majewski, P.; Porro, M. et al.; Richter, R.H.; Sandow, C.; Schaller, G.; Soltau, H.; Strüder, L.: DEPFET active pixel sensor with non-linear amplification. In: 2011 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, N13-1, S. 563 - 568. Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC), 2011 IEEE , Valencia, Spain, 23. Oktober 2011 - 29. Oktober 2011. IEEE, New York (2011)

Schlosser, D.M.; Lechner, P.; Lutz, G.; Niculae, A.; Soltau, H.; Strüder, L.; Eckhardt, R.; Hermenau, K.; Schaller, G.; Schopper, F. et al.; Jaritschin, O.; Liebel, A.; Simsek, A.; Fiorini, C.; Longoni, A.: Expanding the detection efficiency of silicon drift detectors. In: New Developments in Radiation Detectors - Proceedings of the 11th European Symposium on Semiconductor Detectors, S. 270 - 276 (Hg. Andricek, L.; Holl, P.; Schopper, F.; Strüder, L.; Wunstorf, R. et al.). 11th European Symposium on Semiconductor Detectors , Wildbad Kreuth, Germany, 07. Juni 2009 - 11. Juni 2009. (2010)

Stefanescu, A.; Bautz, M.W.; Burrows, D.N.; Bombelli, L.; Fiorini, C.; Fraser, G.; Heinzinger, K.; Herrmann, S.; Kuster, M.; Lauf, T. et al.; Lechner , P.; Lutz, G.; Majewski, P.; Meuris, A.; Murray, S. S.; Porro, M.; Richter, R.; Santangelo, A.; Schaller, G.; Schnecke, M.; Schopper, F.; Soltau, H.; Strüder, L.; Treis, J.; Tsunemi, H.; de Vita, G.; Wilms, J.: The wide field imager of the international X-ray observatory. 11th European Symposium on Semiconductor Detectors, Wildbad Kreuth, Germany, 07. Juni 2009 - 11. Juni 2009. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 624 (2), S. 533 - 539 (2010)

Treis, J.; Andricek, L.; Aschauer, F.; Heinzinger, K.; Herrmann, S.; Hilchenbach, M.; Lauf, T.; Lechner, P.; Lutz, G.; Majewski, P. et al.; Porro, M.; Richter, R.H.; Schaller, G.; Schnecke, M.; Schopper, F.; Soltau, H.; Stefanescu, A.; Strüder, L.; de Vita, G.: MIXS on BepiColombo and its DEPFET based focal plane instrumentation. 11th European Symposium on Semiconductor Detectors, Wildbad Kreuth, Germany, 07. Juni 2009 - 11. Juni 2009. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 624 (2), S. 540 - 547 (2010)

Soltau, H.; Bjeoumikhova, S.; Eckhardt, R.; Hartmann, R.; Holl, P.; Ihle, S.; Lang, M.; Langhoff, N.; Liebel, A.; Niculae, A. et al.; Schaller, G.; Schopper, F.; Thamm, C.; Ziegler, A.; Strüder, L.: High speed and very large pnCCDs for X-ray and electron imaging. Microscopy and Microanalysis 2010, Portland, Oregon, USA, 01. August 2010 - 05. August 2010. Microscopy and Microanalysis 16 (Supplement 2), S. 898 - 899 (2010)

Soltau, H.; Eckhardt, R.; Jaritschin, O.; Jeschke, S.; Lechner, P.; Liebel, A.; Lutz, G.; Niculae, A.; Schaller, G.; Schopper, F. et al.; Simsek, A.; Strüder, L.; Zimmer, O.: Excellent performance with 100 mm² silicon drift detectors. Microscopy and Microanalysis 2010, Portland, Oregon, USA, 01. August 2010 - 05. August 2010. Microscopy and Microanalysis 16 (Supplement 2), S. 1306 - 1307 (2010)

Majewski, P.; Andricek, L.; Lauf, T.; Lechner, P.; Lutz, G.; Reiffers, J.; Richter, R.; Schaller, G.; Schnecke, M.; Schopper, F. et al.; Soltau, H.; Stefanescu, A.; Strüder, L.; Treis, J.: First results from electrical qualification measurements on DEPFET pixel detectors. In: High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy IV, 77421H, S. 1 - 9 (Hg. Holland, A. D.; Dorn, D. A.). High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy IV , San Diego, CA, USA, 27. Juni 2010 - 30. Juni 2010. (2010)