Suchergebnisse

Eggert, T.; Goldstrass, P.; Kemmer, J.; Pahlke, A.: Analysis of background events in Silicon Drift Detectors. Proceedings of the 9th European Symposium on Semiconductor Detect ors: New Developments on Radiation Detectors, Elmau, Germany, 11. Oktober 2003. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A 512 (1-2), S. 257 - 264 (2003)

Pahlke, A.: Einfluss der Oxidqualität auf die Stabilität von Halbleiterdetektoren bei Röntgenbestrahlung. Dissertation, Technische Universität, München (2004)