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Conference Paper (1)

1.
Conference Paper
Eggert, T.; Goldstrass, P.; Kemmer, J.; Pahlke, A.: Analysis of background events in Silicon Drift Detectors. Proceedings of the 9th European Symposium on Semiconductor Detect ors: New Developments on Radiation Detectors, Elmau, Germany, October 11, 2003. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A 512 (1-2), pp. 257 - 264 (2003)

Thesis - PhD (1)

2.
Thesis - PhD
Pahlke, A.: Einfluss der Oxidqualität auf die Stabilität von Halbleiterdetektoren bei Röntgenbestrahlung. Dissertation, Technische Universität, München (2004)
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