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Konferenzbeitrag (2)

  1. 1.
    Konferenzbeitrag
    Lippa, M.; Gillessen, S.; Blind, N.; Kok, Y.; Yazıcı, Ş.; Weber, J.; Pfuhl, O.; Haug, M.; Kellner, S.; Wieprecht, E. et al.; Eisenhauer, F.; Genzel, R.; Hans, O.; Haußmann, F.; Huber, D.; Kratschmann, T.; Ott, T.; Plattner, M.; Rau, C.; Sturm, E.; Waisberg, I.; Wiezorrek, E.; Perrin, G.; Perraut, K.; Brandner, W.; Straubmeier, C.; Amorim, A.: The metrology system of the VLTI instrument GRAVITY. In: Optical and Infrared Interferometry and Imaging V, S. 1 - 9 (Hg. Malbet, F.; Creech-Eakman, M. J.; Tuthill, P. G.). Optical and Infrared Interferometry and Imaging V, Edinburgh, UK, 26. Juni 2016. (2016)
  2. 2.
    Konferenzbeitrag
    Lippa, M.; Blind, N.; Gillessen, S.; Kok, Y.; Weber, J.; Eisenhauer, F.; Pfuhl, O.; Janssen, A.; Haug, M.; Haußmann, F. et al.; Kellner, S.; Hans, O.; Wieprecht, E.; Ott, T.; Burtscher, L.; Genzel, R.; Sturm, E.; Hofmann, R.; Huber, S.; Huber, D.; Senftleben, S.; Pflüger, A.; Greßmann, R.; Perrin, G.; Perraut, K.; Brandner, W.; Straubmeier, C.; Amorim, A.; Schöller, M.: The GRAVITY metrology system: narrow-angle astrometry via phase-shifting interferometry. In: Optical and Infrared Interferometry IV, S. 1 - 11 (Hg. Rajagopal, J. K.; Creech-Eakman, M. J.; Malbet, F.). Optical and Infrared Interferometry IV, Montreal, Canada, 23. Juni 2014 - 27. Juni 2014. (2014)
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