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Zeitschriftenartikel (17)

1.
Zeitschriftenartikel
Bulbul, E.; Kraft, R.; Nulsen, P.; Freyberg, M.; Miller, E. D.; Grant, C.; Bautz, M. W.; Burrows, D. N.; Allen, S.; Eraerds, T. et al.; Fioretti, V.; Gastaldello, F.; Ghirardini, V.; Hall, D.; Meidinger, N.; Molendi, S.; Rau, A.; Wilkins, D.; Wilms, J.: Characterization of the particle-induced background of XMM-Newton EPIC-pn: Short- and long-term variability. The Astrophysical Journal 891 (1), 13 (2020)
2.
Zeitschriftenartikel
Treberspurg, W.; Andritschke, R.; Bähr, A.; Behrens, A.; Hauser, G.; Lechner, P.; Meidinger, N.; Müller-Seidlitz, J.; Richter, R.H.; Treis, J.: Erratum: Layout options of spectroscopic X-ray DEPFETs. Journal of Instrumentation 15 (2), E02001 (2020)
3.
Zeitschriftenartikel
Treberspurg, W.; Andritschke, R.; Behrens, A.; Bonholzer, M.; Emberger, V.; Hauser, G.; Lechner, P.; Meidinger, N.; Müller-Seidlitz, J.: Characterization of a 256 x 256 pixel DEPFET detector for the WFI of Athena. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A 958, 162555 (2019)
4.
Zeitschriftenartikel
Treberspurg, W.; Andritschke, R.; Bähr, A.; Behrens, A.; Hauser, G.; Lechner, P.; Meidinger, N.; Müller-Seidlitz, J.; Richter, R.H.; Treis, J.: Layout options of spectroscopic X-ray DEPFETs. Journal of Instrumentation 14, P08008 (2019)
5.
Zeitschriftenartikel
Treberspurg, W.; Hauser, G.; Meidinger, N.; Müller-Seidlitz, J.; Ott, S.: Achievable time resolution of spectroscopic prototype DEPFET detectors. Journal of Instrumentation 14, P03019 (2019)
6.
Zeitschriftenartikel
Müller-Seidlitz, J.; Lechner, P.; Meidinger, N.; Treberspurg, W.: Spectroscopic DEPFETs at high frame rates using window mode. Journal of Instrumentation 13, P12021 (2018)
7.
Zeitschriftenartikel
Zhang, S.; Santangelo, A.; Feroci, M.; Xu, Y.; Lu, F.; Chen, Y.; Feng, H.; Zhang, S.; Brandt, S.; Hernanz, M. et al.; Baldini, L.; Bozzo, E.; Campana, R.; Rosa, A. D.; Dong, Y.; Evangelista, Y.; Karas, V.; Meidinger, N.; Meuris, A.; Nandra, K.; Pan, T.; Pareschi, G.; Orleanski, P.; Huang, Q.; Schanne, S.; Sironi, G.; Spiga, D.; Svoboda, J.; Tagliaferri, G.; Tenzer, C.; Vacchi, A.; Zane, S.; Walton, D.; Wang, Z.; Winter, B.; Wu, X.; Zand, J. J. M. i. ’.; Ahangarianabhari, M.; Ambrosi, G.; Ambrosino, F.; Barbera, M.; Basso, S.; Bayer, J.; Bellazzini, R.; Bellutti, P.; Bertucci, B.; Bertuccio, G.; Borghi, G.; Cao, X.; Cadoux, F.; Campana, R.; Ceraudo, F.; Chen, T.; Chen, Y.; Chevenez, J.; Civitani, M.; Cui, W.; Cui, W.; Dauser, T.; Monte, E. D.; Cosimo, S. D.; Diebold, S.; Doroshenko, V.; Dovciak, M.; Du, Y.; Ducci, L.; Fan, Q.; Favre, Y.; Fuschino, F.; Gálvez, J. L.; Gao, M.; Ge, M.; Gevin, O.; Grassi, M.; Gu, Q.; Gu, Y.; Han, D.; Hong, B.; Hu, W.; Ji, L.; Jia, S.; Jiang, W.; Kennedy, T.; Kreykenbohm, I.; Kuvvetli, I.; Labanti, C.; Latronico, L.; Li, G.; Li, M.; Li, X.; Li, W.; Li, Z.; Limousin, O.; Liu, H.; Liu, X.; Lu, B.; Luo, T.; Macera, D.; Malcovati, P.; Martindale, A.; Michalska, M.; Meng, B.; Minuti, M.; Morbidini, A.; Muleri, F.; Paltani, S.; Perinati, E.; Picciotto, A.; Piemonte, C.; Qu, J.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Rodriguez, J.; Schanz, T.; Shen, Z.; Sheng, L.; Song, J.; Song, L.; Sgro, C.; Sun, L.; Tan, Y.; Uttley, P.; Wang, B.; Wang, D.; Wang, G.; Wang, J.; Wang, L.; Wang, Y.; Watts, A. L.; Wen, X.; Wilms, J.; Xiong, S.; Yang, J.; Yang, S.; Yang, Y.; Yu, N.; Zhang, W.; Zampa, G.; Zampa, N.; Zdziarski, A. A.; Zhang, A.; Zhang, C.; Zhang, F.; Zhang, L.; Zhang, T.; Zhang, Y.; Zhang, X.; Zhang, Z.; Zhao, B.; Zheng, S.; Zhou, Y.; Zorzi, N.; Zwart, J. F.: The enhanced X-ray Timing and Polarimetry mission—eXTP. Science China - Physics, Mechanics & Astronomy 62 (2), 029502 (2018)
8.
Zeitschriftenartikel
Treberspurg, W.; Meidinger, N.; Müller-Seidlitz, J.; Herrmann, S.: Achievable noise performance of spectroscopic prototype DEPFET detectors. Journal of Instrumentation 13, P12001 (2018)
9.
Zeitschriftenartikel
Müller-Seidlitz, J.; Andritschke, R.; Baehr, A.; Meidinger, N.; Richter, R. H.; Treberspurg, W.; Treis, J.: Performance study of spectroscopic DEPFET arrays with a pixel-wise storage functionality. Journal of Instrumentation 13, P11018 (2018)
10.
Zeitschriftenartikel
Fioretti, V.; Bulgarelli, A.; Molendi, S.; Lotti, S.; Macculi, C.; Barbera, M.; Mineo, T.; Piro, L.; Cappi, M.; Dadina, M. et al.; Meidinger, N.; Kienlin, A. v.; Rau, A.: Magnetic shielding of soft protons in future X-ray telescopes: the case of the ATHENA Wide Field Imager. The Astrophysical Journal 867 (1), 9 (2018)
11.
Zeitschriftenartikel
Treberspurg, W.; Andritschke, R.; Hauser, G.; Lechner, P.; Meidinger, N.; Ninkovic, J.; Müller-Seidlitz, J.; Schopper, F.: Measurement results of different options for spectroscopic X-ray DEPFET sensors. Journal of Instrumentation 13 (9), P09014 (2018)
12.
Zeitschriftenartikel
Meidinger, N.; Nandra, K.; Plattner, M.; Porro, M.; Rau, A.; Santangelo, A.; Tenzer, C.; Wilms, J.: Wide field imager instrument for the Advanced Telescope for High Energy Astrophysics. Journal of Astronomical Telescopes, Instruments, and Systems 1 (1), 014006, S. 1 - 8 (2015)
13.
Zeitschriftenartikel
Bähr, A.; Aschauer, S.; Bergbauer, B.; Hermenau, K.; Lauf, T.; Lechner, P.; Lutz, G.; Majewski, P.; Meidinger, N.; Miessner, D. et al.; Porro, M.; Richter, R.; Schaller, G.; Schopper, F.; Stefanescu, A.; Strüder, L.; Treis, J.: Spectral performance of DEPFET and gateable DEPFET macropixel devices. Journal of Instrumentation 9 (March), P03018, S. 1 - 10 (2014)
14.
Zeitschriftenartikel
Granato, S.; Andritschke, R.; Elbs, J.; Meidinger, N.; Struder, L.; Weidenspointner, G.; Krumrey, M.; Scholze, F.: Characterization of eROSITA PNCCDs. IEEE Transactions on Nuclear Science 60 (4 Part 2), S. 3150 - 3157 (2013)
15.
Zeitschriftenartikel
Strüder, L.; Epp, S.; Rolles, D.; Hartmann, R.; Holl, P.; Lutz, G.; Soltau, H.; Eckart, R.; Reich, C.; Heinzinger, K. et al.; Thamm, C.; Rudenko, A.; Krasniqi, F.; Kühnel, K.-U.; Bauer, C.; Schröter, C.-D.; Moshammer, R.; Techert, S.; Miessner, D.; Porro, M.; Hälker, O.; Meidinger, N.; Kimmel, N.; Andritschke, R.; Schopper, F.; Weidenspointner, G.; Ziegler, A.; Pietschner, D.; Herrmann, S.; Pietsch, U.; Walenta, A.; Leitenberger, W.; Bostedt, C.; Möller, T.; Rupp, D.; Adolph, M.; Graafsmag, H.; Hirsemann, H.; Gärtner, K.; Richter, R.; Foucar, L.; Shoeman, R. L.; Schlichting, I.; Ullrich, J.: Large-format, high-speed, X-ray pnCCDs combined with electron and ion imaging spectrometers in a multipurpose chamber for experiments at 4th generation light sources. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 614 (3), S. 483 - 496 (2010)
16.
Zeitschriftenartikel
Strüder, L.; Meidinger, N.; Stotter, D.; Kemmer, J.; Lechner, P.; Leutenegger, P.; Soltau, H.; Eggert, F.; Rohde, M.; Schulein, T.: High resolution X-ray spectroscopy close to room temperature. Microscopy and Microanalysis 4, S. 622 - 631 (1999)
17.
Zeitschriftenartikel
Strüder, L.; Eckbauer, S.; Hartmann, R.; Hauff, D.; Holl, P.; Kemmer, J.; Lechner, P.; Meidinger, N.; Richter, R.; Soltau, H. et al.; Zanthier, C. v.; Fiorini, C.; Gatti, E.; Longoni, A.; Sampietro, M.: High resolution, high speed detectors with integrated JFET electronics. Journal de Physique IV 7 (Colloque C2), S. 21 - 29 (1997)

Buchkapitel (2)

18.
Buchkapitel
Strüder, L.; Meidinger, N.: CCD detectors. In: The Universe in X-rays, S. 51 - 71 (Hg. Trümper, J.E.; Hasinger, G.). Springer, Berlin, Germany (2008)
19.
Buchkapitel
Strüder, L.; Meidinger, N.; Hartmann, R.: High resolution imaging X-ray CCD spectrometers. In: Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis, S. 262 - 284 (Hg. Beckhoff, B.; Kanngiesser, B.; Langhoff, N.; Wedell, R.; Wolff, H.). Springer, Dordrecht, The Netherlands (2006)

Konferenzbeitrag (109)

20.
Konferenzbeitrag
Bonholzer, M.; Andritschke, R.; Emberger, V.; Meidinger, N.; Müller-Seidlitz, J.; Treberspurg, W.: Electrical characterization of prototype DEPFET detectors for Athena's Wide Field Imager. In: UV, X-RAY, AND GAMMA-RAY SPACE INSTRUMENTATION FOR ASTRONOMY XXI, Bd. 11118, 111180F (Hg. Siegmund, O. H. W.). Conference on UV, X-Ray, and Gamma-Ray Space Instrumentation for Astronomy XXI held at SPIE Optical Engineering + Applications Conference, San Diego, CA, 11. August 2019 - 13. August 2019. (2019)
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